Author(s):
H. Watanabe, M. Fukuoka, A. Abd Karim, C. H. Teo, M. H. Norziah, C. C. Seow, V. Planchot, C. Gérard, E. Bertoft, P. Colonna, S. Ikeda, T. Yabuzoe, T. Takaya, K. Nishinari, M. J. Emes, I. J. Tetlow, C. G. Bowsher, M. J. Gidley, S. C. Zeeman, J. H. Critchley, T. Takaha, S. M. Smith, A. M. Smith, B. Baud, P. Colonna, G. Della Valle, P. Roger, A. M. Smith, S. C. Zeeman, K. Denyer, T. Y. Bogracheva, T. L. Wang, C. L. Hedley, R. A. Graybosch, C. L. Hedley, T. Y. Bogracheva, Y. Wang, T. L. Wang, M. K. Morell, Z. Li, S. Rahman, R. F. Tester, S. J. J. Debon, X. Qi, M. D. Sommerville, R. Yousuf, M. Yusuph, B. Conde-Petit, C. Closs, F. Escher, S. L. Slaughter, P. J. Butterworth, P. R. Ellis, G. Lewandowicz, J. Fornal, E. Voelkel, A. M. Donald, P. A. Perry, T. A. Waigh, M. Soral-Smietana, M. Wronkowska, R. Amarowicz, A. Cheyne, J. Barnes, D. I. Wils
Editor(s):
T L Barsby, A M Donald, P J Frazier


Publication Details

Copyright: 2001
ISBN: 978-1-84755-191-7
DOI:10.1039/9781847551917
Description


Book Contents

Share & Recommend